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當前位置:首頁產品中心包裝材料檢測儀器測厚儀CHY-01厚膜膜層測厚儀

厚膜膜層測厚儀

產品簡介

厚膜膜層測厚儀適用于5mm范圍內各種薄膜、薄片、隔膜、復合膜、紙張、紙板、玻璃、箔片、硅片、金屬箔片、硬片、紡織材料、固體電絕緣體、無紡布材料等硬質和軟質材料厚度準確測量。

產品型號:CHY-01
更新時間:2024-12-09
廠商性質:生產廠家
訪問量:65
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品牌錦華儀器價格區間面議
產地類別國產應用領域食品,化工,能源,印刷包裝,制藥
自動回位歷史數據
量程0-5mm遠程指導可以
技術支持終身質保期一年
品牌錦華儀器

CHY-01厚膜膜層測厚儀采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規范性和準確性。厚膜膜層測厚儀專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。技術特征

嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力,同時支持各種非標定制;

測試過程中測量頭自動升降,有效避免了人為因素造成的系統誤差;

測試軟件提供測試結果圖形統計分析,準確直觀地將測試結果展示給用戶;

彩色大液晶顯示測試結果,及每次測量值、統計值;

配備微型打印機,快速打印每次測量結果及統計大小值、平均值;

支持數據實時顯示、自動統計、打印等許多實用功能;

配備標準RS232接口,方便系統與電腦的外部連接和數據傳輸;

配備專用自動進樣器,可一鍵實現全自動多點測量,人為誤差小(選配);

 

應用范圍

適用于5mm范圍內各種薄膜、薄片、隔膜、復合膜、紙張、紙板、玻璃、箔片、硅片、金屬箔片、硬片、紡織材料、固體電絕緣體、無紡布材料等硬質和軟質材料厚度準確測量。分辨率達0.1um,廣泛應用于薄膜、鋁箔生產企業、質檢機構等單位。擴展應用:(需特殊附件或改制)

產品名稱

使用范圍

薄膜

用于薄膜、薄片、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質材料厚度測量。

鋁箔

對金屬箔片、硬片等硬質材料厚度測量。

紙張

用于各種紙張、紙板材料厚度測試。

硅片

 接觸式測試原理有效的檢測出硅片上每個點的厚度值。

適用標準

該儀器符合多項國家和國際標準:GB/T 6672-2001 、GB/T 451.3-2002、GB/T 6547-1998、ISO 4593-1993、ISO 534-2011、ISO 3034-2011ASTM D374-1999、ASTM D1777-1996(2007)、JIS K6250-1997、JIS K6783-1994、JIS Z1702-1994、BS 3983-1989 、BS 4817 、TAPPI T411

 

技術參數

  

     

測量范圍

0-5mm(可根據需要定做合適夾具)

測量壓力

17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(紙張)

測量精度

±0.5um

分辨率

0.1um

接觸面積

50mm2(薄膜),200mm2(紙張)  注:紙張需定制

測量速度

10c/min (可調)

外形尺寸

454mmx352mmX500mm

電源

AC220V 50Hz

凈重

30kg


厚膜膜層測厚儀


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